Металлографический прямой микроскоп XJL302BD с темным полем

Прямой металлографический микроскоп имеет конструкцию модульного типа, что делает возможным, при доукомплектовании, проведение исследований в поляризованном свете и темном поле. Штатив придает устойчивость к вибрациям и ударам. Эргономичная конструкция, примененная в микроскопе, облегчает его эксплуатацию. Это оптический прибор для наблюдения микрометаллографической структуры и морфологии поверхности. Микроскоп подходит для исследований в металлографии, минералогии, точном машиностроении и т.д.

Методы исследований:

отраженный свет, светлое/темное поле, поляризованный свет

Увеличение:

50X-800X (1600x*)

Насадка:

тринокулярная с наклоном 25°;

подстройка ±5 диоптрий;

изменяемое межзрачковое расстояние 53-75 мм.

Окуляры:

WF10X/22 мм; (WF20x*)

Объективы планохроматы с тубусом  "на бесконечность" (Infinity Color Corrected System)

PL L5X/0.12 BD (9.7 мм);

PL L10X/0.25 BD (9.3 мм);

PL L20X/0.40 BD (7.2 мм);

PL L50X/0.70 BD (2.5 мм) (подпружиненный);

PL L80X/0.80 BD (1.25 мм) (подпружиненный).

Револьверное устройство

на пять объективов
Предметный столик

прямоугольный 280х270 мм;

двухкоординатный

диапазон перемещений 204х204 мм

максимально допустимый вес образца 3 кг.

   

Система фокусировки

коаксиальные рукоятки грубой и точной фокусировки;
встроенный механизм для защиты препарата при смене объектива;
регулировка "тугости" хода рукояток фокусировки;

шаг тонкой фокусировки 0.008 мм.

Система освещения

отраженный свет по Келлеру

возможность регулировки освещенности наблюдаемого объекта;

источник освещения  - галогенная лампа 12 В 50 Вт.